12インチSiC基板N型大型高性能RFアプリケーション
技術的パラメータ
12インチシリコンカーバイド(SiC)基板仕様 | |||||
学年 | ZeroMPDプロダクション グレード(Zグレード) | 標準生産 グレード(Pグレード) | ダミーグレード (Dグレード) | ||
直径 | 3 0 0 mm~1305 mm | ||||
厚さ | 4H-N | 750μm±15μm | 750μm±25μm | ||
4H-SI | 750μm±15μm | 750μm±25μm | |||
ウェーハの向き | オフアクシス:4H-Nの場合、<1120>±0.5°方向に4.0°、オンアクシス:4H-SIの場合、<0001>±0.5° | ||||
マイクロパイプ密度 | 4H-N | ≤0.4cm-2 | ≤4cm-2 | ≤25cm-2 | |
4H-SI | ≤5cm-2 | ≤10cm-2 | ≤25cm-2 | ||
抵抗率 | 4H-N | 0.015~0.024Ω·cm | 0.015~0.028Ω·cm | ||
4H-SI | ≥1E10 Ω·cm | ≥1E5Ω·cm | |||
プライマリフラットオリエンテーション | {10-10} ±5.0° | ||||
プライマリフラット長さ | 4H-N | 該当なし | |||
4H-SI | ノッチ | ||||
エッジ除外 | 3ミリメートル | ||||
LTV/TTV/ボウ/ワープ | 5μm以下/15μm以下/35μm以下/55μm以下 | 5μm以下/15μm以下/35μm以下/55μm以下 | |||
粗さ | 研磨Ra≤1 nm | ||||
CMP Ra≤0.2 nm | Ra≤0.5 nm | ||||
高強度光によるエッジクラック 高輝度ライトによる六角プレート 高強度光によるポリタイプ領域 視覚的な炭素含有物 高強度光によるシリコン表面の傷 | なし 累積面積≤0.05% なし 累積面積≤0.05% なし | 累計長さ≤20 mm、単一長さ≤2 mm 累積面積≤0.1% 累積面積≤3% 累積面積≤3% 累積長さ≤1×ウェーハ直径 | |||
高強度光によるエッジチップ | 幅と深さは0.2mm以上は許可されません | 7個まで許容、各1 mm以下 | |||
(TSD)ねじ山脱臼 | ≤500 cm-2 | 該当なし | |||
(BPD) 基底面転位 | ≤1000 cm-2 | 該当なし | |||
高強度光によるシリコン表面汚染 | なし | ||||
パッケージ | マルチウェーハカセットまたはシングルウェーハコンテナ | ||||
注記: | |||||
1 欠陥制限は、エッジ除外領域を除くウェーハ表面全体に適用されます。 2傷はSi面のみで確認します。 3 転位データは KOH エッチングされたウェーハからのみ得られます。 |
主な特徴
1. 大型サイズの利点:12インチSiC基板(12インチシリコンカーバイド基板)は、単一のウェーハ面積が大きいため、ウェーハあたりに生産できるチップ数が増え、製造コストが削減され、歩留まりが向上します。
2. 高性能材料:シリコンカーバイドの高温耐性と高い破壊電界強度により、12 インチ基板は EV インバータや急速充電システムなどの高電圧および高周波アプリケーションに最適です。
3. 処理の適合性: SiC は硬度が高く、処理が困難であるにもかかわらず、12 インチ SiC 基板では、最適化された切断および研磨技術により表面欠陥が少なくなり、デバイスの歩留まりが向上します。
4. 優れた熱管理: シリコンベースの材料よりも優れた熱伝導率を備えた 12 インチ基板は、高出力デバイスの放熱を効果的に処理し、機器の寿命を延ばします。
主な用途
1. 電気自動車:12インチSiC基板(12インチ炭化ケイ素基板)は、次世代電気駆動システムの中核部品であり、航続距離を延ばし、充電時間を短縮する高効率インバータを実現します。
2. 5G基地局:大型SiC基板は高周波RFデバイスをサポートし、5G基地局の高出力・低損失の要求を満たします。
3. 産業用電源: 太陽光発電インバータやスマートグリッドでは、12 インチ基板はエネルギー損失を最小限に抑えながらより高い電圧に耐えることができます。
4.民生用電子機器: 将来の急速充電器やデータセンターの電源では、コンパクトなサイズと高い効率を実現するために 12 インチの SiC 基板が採用される可能性があります。
XKHのサービス
当社は、12インチSiC基板(12インチシリコンカーバイド基板)のカスタマイズ加工サービスを専門としており、以下のサービスを提供しています。
1. ダイシング&研磨:お客様のご要望に合わせた低ダメージ、高平坦性の基板加工により、安定したデバイス性能を実現します。
2. エピタキシャル成長サポート:チップ製造を加速する高品質のエピタキシャル ウェーハ サービス。
3. 小ロットプロトタイピング:研究機関や企業の研究開発検証をサポートし、開発サイクルを短縮します。
4. 技術コンサルティング: 材料の選択からプロセスの最適化までエンドツーエンドのソリューションを提供し、お客様が SiC 処理の課題を克服できるよう支援します。
大量生産でも特殊なカスタマイズでも、当社の 12 インチ SiC 基板サービスはお客様のプロジェクト ニーズに合わせて、技術の進歩を促進します。


