4H/6H-P 6インチSiCウェハ ゼロMPDグレード 量産グレード ダミーグレード

簡単な説明:

4H/6H-P型6インチSiCウェハは、優れた熱伝導性、高い破壊電圧、高温耐性、耐腐食性など、電子機器製造に使用される半導体材料です。量産グレードとゼロMPD(マイクロパイプ欠陥)グレードは、高性能パワーエレクトロニクスにおける信頼性と安定性を保証します。量産グレードウェハは、厳格な品質管理のもと、大規模デバイスの製造に使用され、ダミーグレードウェハは主にプロセスデバッグや機器試験に使用されます。SiCの優れた特性により、パワーデバイスやRFデバイスなど、高温、高電圧、高周波電子機器に広く応用されています。


製品詳細

製品タグ

4H/6H-P型SiC複合基板共通パラメータ表

6 インチ径シリコンカーバイド(SiC)基板 仕様

学年 MPD生産ゼログレード(Z 学年) 標準生産グレード(P 学年) ダミーグレード (D 学年)
直径 145.5mm~150.0mm
厚さ 350μm±25μm
ウェーハの向き -Off軸:4H/6H-Pの場合、[1120]方向へ2.0°-4.0°±0.5°、軸上:3C-Nの場合〈111〉±0.5°
マイクロパイプ密度 0 cm-2
抵抗率 p型4H/6H-P ≤0.1Ω·cm ≤0.3Ω·cm
n型3C-N ≤0.8 mΩ∙cm ≤1 mΩıcm
プライマリフラットオリエンテーション 4H/6H-P -{1010} ± 5.0°
3C-N -{110} ± 5.0°
プライマリフラット長さ 32.5mm±2.0mm
二次フラット長さ 18.0 mm ± 2.0 mm
二次フラットオリエンテーション シリコン面を上向きに:プライムフラットから時計回りに90°。±5.0°
エッジ除外 3ミリメートル 6ミリメートル
LTV/TTV/ボウ/ワープ 2.5μm以下/5μm以下/15μm以下/30μm以下 10μm以下/15μm以下/25μm以下/40μm以下
粗さ 研磨Ra≤1 nm
CMP Ra≤0.2 nm Ra≤0.5 nm
高強度光によるエッジクラック なし 累計長さ≤10 mm、単一長さ≤2 mm
高輝度ライトによる六角プレート 累積面積≤0.05% 累積面積≤0.1%
高強度光によるポリタイプ領域 なし 累積面積≤3%
視覚的な炭素含有物 累積面積≤0.05% 累積面積≤3%
高強度光によるシリコン表面の傷 なし 累積長さ≤1×ウェーハ直径
エッジチップは強度光によって高くなる 幅と深さは0.2mm以上は許可されません 5個まで可能、各1 mm以下
高強度によるシリコン表面汚染 なし
パッケージ マルチウェーハカセットまたはシングルウェーハコンテナ

注記:

※欠陥限度は、エッジ除外領域を除くウェーハ表面全体に適用されます。#傷はSi面上で確認する必要があります。

4H/6H-P型6インチSiCウェーハは、ゼロMPDグレード、量産グレード、ダミーグレードがあり、高度な電子機器用途で広く使用されています。優れた熱伝導性、高い破壊電圧、そして過酷な環境への耐性により、高電圧スイッチやインバータなどのパワーエレクトロニクスに最適です。ゼロMPDグレードは、高信頼性デバイスに不可欠な欠陥を最小限に抑えます。量産グレードウェーハは、性能と精度が極めて重要なパワーデバイスやRFアプリケーションの大規模製造に使用されます。一方、ダミーグレードウェーハは、プロセスキャリブレーション、機器試験、試作などに使用され、半導体製造環境における一貫した品質管理を可能にします。

N型SiC複合基板の利点は次のとおりです。

  • 高い熱伝導性4H/6H-P SiC ウェハーは熱を効率的に放散するため、高温・高出力の電子機器用途に適しています。
  • 高破壊電圧: 故障することなく高電圧を処理できるため、パワーエレクトロニクスや高電圧スイッチングアプリケーションに最適です。
  • ゼロMPD(マイクロパイプ欠陥)グレード: 欠陥密度が最小限に抑えられるため、要求の厳しい電子デバイスにとって重要な、より高い信頼性とパフォーマンスが保証されます。
  • 大量生産に適した生産グレード: 厳しい品質基準を持つ高性能半導体デバイスの大規模生産に適しています。
  • 試験および校正用ダミーグレード: 高価な生産グレードのウェハを使用せずに、プロセスの最適化、機器のテスト、およびプロトタイピングを可能にします。

4H/6H-P 6インチSiCウェーハは、ゼロMPDグレード、量産グレード、ダミーグレードの3グレードがあり、高性能電子デバイスの開発に大きなメリットをもたらします。これらのウェーハは、高温動作、高電力密度、効率的な電力変換を必要とするアプリケーションにおいて特に有益です。ゼロMPDグレードは、欠陥を最小限に抑え、信頼性と安定性に優れたデバイス性能を実現します。一方、量産グレードウェーハは、厳格な品質管理のもと、大規模生産をサポートします。ダミーグレードウェーハは、プロセス最適化と装置キャリブレーションのための費用対効果の高いソリューションを提供し、高精度半導体製造に不可欠な存在となっています。

詳細図

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