4H/6H-P 6インチSiCウェハ ゼロMPDグレード プロダクショングレード ダミーグレード
4H/6H-PタイプSiC複合基板 共通パラメータ表
6 直径インチの炭化ケイ素 (SiC) 基板 仕様
学年 | MPD 生産ゼログレード (Z 学年) | 標準生産グレード (P 学年) | ダミーグレード (D 学年) | ||
直径 | 145.5mm~150.0mm | ||||
厚さ | 350μm±25μm | ||||
ウェーハの向き | -Off軸上:[1120]方向 2.0°~4.0° 4H/6H-P ± 0.5°、軸上:〈111〉± 0.5° 3C-N | ||||
マイクロパイプ密度 | 0cm-2 | ||||
抵抗率 | p型 4H/6H-P | ≤0.1Ωꞏcm | ≤0.3Ωꞏcm | ||
n型3C-N | ≤0.8mΩꞏcm | ≤1mΩꞏcm | |||
プライマリフラット方向 | 4H/6H-P | -{1010} ±5.0° | |||
3C-N | -{110}±5.0° | ||||
一次平坦長さ | 32.5mm±2.0mm | ||||
二次平坦長さ | 18.0mm±2.0mm | ||||
二次平面方向 | シリコン面を上に: 90° CW。一次平面より±5.0° | ||||
エッジの除外 | 3mm | 6mm | |||
LTV/TTV/バウ/ワープ | 2.5μm以下/5μm以下/15μm以下/30μm以下 | 10μm以下/15μm以下/25μm以下/40μm以下 | |||
粗さ | ポリッシュ Ra≤1 nm | ||||
CMP Ra≦0.2nm | Ra≦0.5nm | ||||
高輝度光によるエッジクラック | なし | 累積長さ ≤ 10 mm、単一の長さ ≤ 2 mm | |||
高輝度光による六角プレート | 累積面積 ≤0.05% | 累積面積 ≤0.1% | |||
高強度の光によるポリタイプ領域 | なし | 累積面積≤3% | |||
視覚的なカーボンインクルージョン | 累積面積 ≤0.05% | 累積面積 ≤3% | |||
高強度の光によるシリコン表面の傷 | なし | 累積長さ≦1×ウェーハ直径 | |||
強度の光によるエッジチップの増加 | なし 幅および深さ 0.2mm 以上は許可されない | 5 個許容、それぞれ ≤1 mm | |||
高強度によるシリコン表面の汚染 | なし | ||||
包装 | マルチウェーハカセットまたはシングルウェーハコンテナ |
注:
※ 欠陥制限はエッジ除外領域を除くウェーハ表面全体に適用されます。 # Si 面の傷を確認する必要があります。
Zero MPD グレードおよびプロダクションまたはダミー グレードの 4H/6H-P タイプ 6 インチ SiC ウェーハは、高度な電子アプリケーションで広く使用されています。優れた熱伝導性、高い耐電圧、過酷な環境への耐性により、高電圧スイッチやインバーターなどのパワーエレクトロニクスに最適です。 Zero MPD グレードは、信頼性の高いデバイスにとって重要な欠陥を最小限に抑えます。量産グレードのウェーハは、パフォーマンスと精度が重要となるパワーデバイスや RF アプリケーションの大規模製造で使用されます。一方、ダミーグレードのウェーハはプロセス校正、機器テスト、プロトタイピングに使用され、半導体製造環境での一貫した品質管理を可能にします。
N型SiC複合基板の利点は次のとおりです。
- 高い熱伝導率: 4H/6H-P SiC ウェハーは効率的に熱を放散するため、高温および高出力の電子アプリケーションに適しています。
- 高耐圧: 高電圧を確実に処理できるため、パワーエレクトロニクスや高電圧スイッチング用途に最適です。
- MPD(マイクロパイプ欠陥)ゼログレード: 欠陥密度を最小限に抑えることで、要求の厳しい電子デバイスにとって重要な、より高い信頼性とパフォーマンスが保証されます。
- 大量生産向けの量産グレード:厳しい品質基準を備えた高性能半導体デバイスの大量生産に適しています。
- テストおよび校正用のダミーグレード:高コストの量産グレードのウェーハを使用せずに、プロセスの最適化、機器のテスト、プロトタイピングを可能にします。
全体として、ゼロ MPD グレード、プロダクション グレード、ダミー グレードの 4H/6H-P 6 インチ SiC ウェーハは、高性能電子デバイスの開発に大きな利点をもたらします。これらのウェーハは、高温動作、高電力密度、効率的な電力変換を必要とする用途に特に有益です。 Zero MPD グレードは信頼性と安定したデバイス性能を実現するために欠陥を最小限に抑え、量産グレードのウェーハは厳格な品質管理で大規模製造をサポートします。ダミーグレードのウェーハは、プロセスの最適化と機器のキャリブレーションのためのコスト効率の高いソリューションを提供し、高精度の半導体製造に不可欠なものとなっています。
詳細図
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