N型SiC-Si複合基板(直径6インチ)
| 等级学年 | うー级 | P级 | D级 |
| 低BPDグレード | 生産グレード | ダミーグレード | |
| 直径直径 | 150.0mm±0.25mm | ||
| 厚さ厚さ | 500μm±25μm | ||
| 結晶片方向ウェーハの向き | オフアクシス:< 11-20 > 方向に 4.0°、4H-N の場合は ±0.5° オンアクシス:<0001> 方向に 4H-SI の場合は ±0.5° | ||
| 主定位边方向プライマリーフラット | {10-10}±5.0° | ||
| 主定位边長度プライマリフラット長さ | 47.5mm±2.5mm | ||
| 边缘エッジ除外 | 3ミリメートル | ||
| 总厚さ变化/弯曲度/翘曲度 TTV/弓 /反り | ≤15μm /≤40μm /≤60μm | ||
| 微管密度と基底面位置MPDとBPD | MPD≤1 cm-2 | MPD≤5 cm-2 | MPD≤15 cm-2 |
| BPD≤1000cm-2 | |||
| 電気抵抗率抵抗率 | ≥1E5Ω·cm | ||
| 表面粗さ粗さ | 研磨Ra≤1 nm | ||
| CMP Ra≤0.5 nm | |||
| 裂纹(强光灯观测) # | なし | 累計長さ≤10mm、単長≤2mm | |
| 高強度光によるひび割れ | |||
| 六方空洞(强光灯观测)* | 累積面積≤1% | 累積面積≤5% | |
| 高輝度光による六角プレート | |||
| 多型(强光灯观测)* | なし | 累積面積≤5% | |
| 高強度光によるポリタイプ領域 | |||
| 划痕(强光灯观测)*& | 1×ウェーハ直径に3つの傷 | 1×ウェーハ直径あたり5つの傷 | |
| 高輝度光による傷 | 累積長さ | 累積長さ | |
| 崩边# エッジチップ | なし | 5個まで可能、各1 mm以下 | |
| 表面污染物(强光灯观测) | なし | ||
| 高強度光による汚染 | |||
詳細図
関連製品
ここにメッセージを書いて送信してください

