N型SiC-Si複合基板(直径6インチ)
等级学年 | うー级 | P级 | D级 |
低BPDグレード | 生産グレード | ダミーグレード | |
直径直径 | 150.0mm±0.25mm | ||
厚さ厚さ | 500μm±25μm | ||
結晶片方向ウェーハの向き | オフアクシス:< 11-20 > 方向に 4.0°、4H-N の場合は ±0.5° オンアクシス:<0001> 方向に 4H-SI の場合は ±0.5° | ||
主定位边方向プライマリーフラット | {10-10}±5.0° | ||
主定位边長度プライマリフラット長さ | 47.5mm±2.5mm | ||
边缘エッジ除外 | 3ミリメートル | ||
总厚さ变化/弯曲度/翘曲度 TTV/弓 /反り | ≤15μm /≤40μm /≤60μm | ||
微管密度と基底面位置MPDとBPD | MPD≤1 cm-2 | MPD≤5 cm-2 | MPD≤15 cm-2 |
BPD≤1000cm-2 | |||
電気抵抗率抵抗率 | ≥1E5Ω·cm | ||
表面粗さ粗さ | 研磨Ra≤1 nm | ||
CMP Ra≤0.5 nm | |||
裂纹(强光灯观测) # | なし | 累計長さ≤10mm、単長≤2mm | |
高強度光によるひび割れ | |||
六方空洞(强光灯观测)* | 累積面積≤1% | 累積面積≤5% | |
高輝度光による六角プレート | |||
多型(强光灯观测)* | なし | 累積面積≤5% | |
高強度光によるポリタイプ領域 | |||
划痕(强光灯观测)*& | 1×ウェーハ直径に3つの傷 | 1×ウェーハ直径あたり5つの傷 | |
高輝度光による傷 | 累積長さ | 累積長さ | |
崩边# エッジチップ | なし | 5個まで許容、各1 mm以下 | |
表面污染物(强光灯观测) | なし | ||
高強度光による汚染 |
詳細図

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