3インチ高純度(非ドープ)シリコンカーバイドウェーハ半絶縁SiC基板(HPSl)

簡単な説明:

3インチ高純度半絶縁(HPSI)シリコンカーバイド(SiC)ウェハは、高出力、高周波、およびオプトエレクトロニクス用途向けに最適化されたプレミアムグレードの基板です。非ドープ高純度4H-SiC材料で製造されたこれらのウェハは、優れた熱伝導性、広いバンドギャップ、そして卓越した半絶縁特性を備えており、高度なデバイス開発に不可欠な材料となっています。優れた構造完全性と表面品質を備えたHPSI SiC基板は、パワーエレクトロニクス、通信、航空宇宙産業における次世代技術の基盤として、多様な分野におけるイノベーションを支えています。


製品詳細

製品タグ

プロパティ

1. 物理的および構造的特性
●材質:高純度(未ドープ)シリコンカーバイド(SiC)
●直径:3インチ(76.2mm)
●厚さ:0.33~0.5mm、用途に応じてカスタマイズ可能。
●結晶構造:六方格子の4H-SiCポリタイプで、高い電子移動度と熱安定性が特徴です。
●オリエンテーション:
o規格:[0001](C面)、幅広い用途に適しています。
オプション: デバイス層のエピタキシャル成長を強化するためのオフ軸 (4° または 8° 傾斜)。
●平坦度:総厚さ偏差(TTV)●表面品質:
o低欠陥密度(マイクロパイプ密度<10/cm²)に研磨されています。2. 電気特性●抵抗率:>109^99 Ω·cm、意図的なドーパントの除去により維持されています。
●絶縁強度: 誘電損失が最小限で高電圧耐性があり、高電力用途に最適です。
●熱伝導率:3.5~4.9W/cm·Kで、高性能機器の効率的な放熱を実現します。

3. 熱的および機械的特性
●広いバンドギャップ: 3.26 eV、高電圧、高温、高放射線条件下での動作をサポートします。
●硬度:モース硬度9、加工時の機械的摩耗に対する堅牢性を確保。
●熱膨張係数:4.2×10−6/K4.2 \times 10^{-6}/\text{K}4.2×10−6/K、温度変化下でも寸法安定性を確保します。

パラメータ

生産グレード

研究グレード

ダミーグレード

ユニット

学年 生産グレード 研究グレード ダミーグレード  
直径 76.2 ± 0.5 76.2 ± 0.5 76.2 ± 0.5 mm
厚さ 500±25 500±25 500±25 µm
ウェーハの向き 軸上: <0001> ± 0.5° 軸上: <0001> ± 2.0° 軸上: <0001> ± 2.0° 程度
マイクロパイプ密度(MPD) ≤ 1 ≤ 5 ≤ 10 cm−2^-2−2
電気抵抗率 ≥ 1E10 ≥ 1E5 ≥ 1E5 Ω·cm
ドーパント ドーピングなし ドーピングなし ドーピングなし  
プライマリフラットオリエンテーション {1-100} ± 5.0° {1-100} ± 5.0° {1-100} ± 5.0° 程度
プライマリフラット長さ 32.5 ± 3.0 32.5 ± 3.0 32.5 ± 3.0 mm
二次フラット長さ 18.0 ± 2.0 18.0 ± 2.0 18.0 ± 2.0 mm
二次フラットオリエンテーション プライマリフラットから時計回りに90°±5.0° プライマリフラットから時計回りに90°±5.0° プライマリフラットから時計回りに90°±5.0° 程度
エッジ除外 3 3 3 mm
LTV/TTV/ボウ/ワープ 3 / 10 / ±30 / 40 3 / 10 / ±30 / 40 5 / 15 / ±40 / 45 µm
表面粗さ Si面:CMP、C面:研磨 Si面:CMP、C面:研磨 Si面:CMP、C面:研磨  
ひび割れ(高輝度光) なし なし なし  
六角プレート(高輝度ライト) なし なし 累積面積10% %
ポリタイプエリア(高輝度光) 累積面積5% 累積面積20% 累積面積30% %
傷(高輝度光) 傷が5個以下、累計長さが150以下 傷は10個以下、累計長さは200以下 傷は10個以下、累計長さは200以下 mm
エッジチッピング なし ≥ 0.5 mm 幅/深さ 2 許容 ≤ 1 mm 幅/深さ 5 ≤ 5 mm 幅/深さ mm
表面汚染 なし なし なし  

アプリケーション

1. パワーエレクトロニクス
HPSI SiC 基板はバンドギャップが広く熱伝導率が高いため、次のような過酷な条件下で動作するパワーデバイスに最適です。
●高電圧デバイス:効率的な電力変換のための MOSFET、IGBT、ショットキーバリアダイオード (SBD) など。
●再生可能エネルギーシステム:太陽光インバーターや風力タービンコントローラーなど。
●電気自動車(EV):インバーター、充電器、パワートレインシステムに使用され、効率を向上し、サイズを小型化します。

2. RFおよびマイクロ波アプリケーション
HPSI ウェーハの高い抵抗率と低い誘電損失は、次のような無線周波数 (RF) およびマイクロ波システムに不可欠です。
●通信インフラ:5Gネットワ​​ークや衛星通信の基地局。
●航空宇宙および防衛:レーダーシステム、フェーズドアレイアンテナ、航空電子機器コンポーネント。

3. オプトエレクトロニクス
4H-SiC の透明性と広いバンドギャップにより、次のような光電子デバイスに使用できます。
●UV光検出器:環境モニタリングや医療診断に。
●高出力LED:ソリッドステート照明システムをサポートします。
●レーザーダイオード:産業・医療用途向け。

4. 研究開発
HPSI SiC 基板は、次のような高度な材料特性やデバイス製造を研究するための学術研究室や産業研究開発ラボで広く使用されています。
●エピタキシャル層成長:欠陥低減と層最適化に関する研究。
●キャリア移動度研究:高純度材料における電子および正孔輸送の調査。
●プロトタイピング:新しいデバイスや回路の初期開発。

利点

優れた品質:
高い純度と低い欠陥密度により、高度なアプリケーションに信頼性の高いプラットフォームを提供します。

熱安定性:
優れた放熱特性により、デバイスは高電力および高温条件下でも効率的に動作します。

幅広い互換性:
利用可能な方向とカスタム厚さオプションにより、さまざまなデバイス要件に適応できます。

耐久性:
優れた硬度と構造的安定性により、加工中および操作中の摩耗や変形が最小限に抑えられます。

汎用性:
再生可能エネルギーから航空宇宙、通信まで、幅広い業界に適しています。

結論

3インチ高純度半絶縁シリコンカーバイド(HPSI)ウェハは、高出力、高周波、およびオプトエレクトロニクスデバイス向け基板技術の最高峰です。優れた熱特性、電気特性、機械特性を組み合わせることで、過酷な環境下でも信頼性の高い性能を実現します。パワーエレクトロニクスやRFシステムからオプトエレクトロニクス、そして高度な研究開発に至るまで、これらのHPSI基板は明日のイノベーションの基盤となります。
詳細やご注文については、お気軽にお問い合わせください。当社の技術チームが、お客様のニーズに合わせたアドバイスやカスタマイズオプションをご提供いたします。

詳細図

SiC半絶縁03
SiC半絶縁02
SiC半絶縁06
SiC半絶縁05

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